Электронные сканирующие микроскопы

Электронные сканирующие микроскопы

Электронные сканирующие микроскопы

27 сентября 2016, 18:58
Общество
Электронные сканирующие микроскопы, представленные по ссылке http://imc-systems.ru/category/Nauchno-issledovatelskoe-oborudovanie/Skanirujushaja-zondovaja-mikroskopija/, служат при исследованиях и сканировании различных образцов с помощью электронных лучей. Вследствие чего есть возможность точно измерить испускаемую квантовую интенсивность (отражённые, вторичные электроны). Также есть прекрасный шанс преобразить испускаемую энергию в электрические сигналы.

Электронные сканирующие микроскопы, представленные по ссылке http://imc-systems.ru/category/Nauchno-issledovatelskoe-oborudovanie/Skanirujushaja-zondovaja-mikroskopija/, служат при исследованиях и сканировании различных образцов с помощью электронных лучей. Вследствие чего есть возможность точно измерить испускаемую квантовую интенсивность (отражённые, вторичные электроны). Также есть прекрасный шанс преобразить испускаемую энергию в электрические сигналы.

Отличительной особенностью данных моделей микроскопов относительно других аналогов, является наличие наиболее качественного пространственного разрешения и возможность настроить необходимую резкость с проведением химического анализа на основании спектров рентгеновских излучений, которые трансформируются при облучениях поверхностей образцов с использованием пучков электронов.

Принцип работы сканирующего электронного микроскопа

Специальная электронная пушка, позволяет образовывать пучок электронов способных ускоряться от двух до сорока кэВ. Сканирующие отклоняющиеся катушки с системой линз магнитного действия способствуют образованию пучков электронов небольших диаметров, которые воздействуют на поверхность образцов. В процессе электронных облучений поверхностей, приходят в активное действие отражённые электроны вторичного действия.

Наличие пространственного разрешения у сканированного микроскопа будет напрямую зависимы от оптической характеристики системы, которая влияет на образование и фокусировку электронных пучков.

Преимущественные особенности электронных сканированных микроскопов

Возможность всестороннего и качественного исследования поверхностей различных образцов, в том числе и тонких плёнок с использованием самых разнообразных аналитических способов исследований, включая проведение экспериментальных работ, что позволит получить разрешение на десятки единиц, а иногда и нанометры.

Благодаря тому факту, что данный прибор является, в первую очередь исследовательским инструментом, это позволяет его с успехом использовать в различных научных направлениях, таких как биология, физика и электроника.

Сканирующий электронный микроскоп, является единственным прибором в своём роде, при помощи которого есть возможность проведения качественных исследований поверхностей высокотехнологических типов микросхем, что позволяет его использовать в самых различных направлениях научно - технических разработок и проведения качественного анализа.

Нашли опечатку в тексте? Выделите её и нажмите ctrl+enter